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SN-100晶體網(wǎng)絡(luò)分析儀
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| 發(fā)布時間：
2024/4/18 7:28:00 |
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電 話： |
86-020-85164689 |
| 傳 真： |
86-- |
| 手 機： |
13533803961 |
| 郵 編： |
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| 地 址： |
廣州市增城區(qū)永寧街創(chuàng)盛路7號1129房 |
| 網(wǎng) 址： |
http://rlx0225.cn.vooec.com |
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| 公司名稱：廣州市賽影機電設(shè)備有限公司 |
| 聯(lián) 系 人：饒女士 女士 |
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SN-100晶體網(wǎng)絡(luò)分析儀 詳細說明 |
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晶體網(wǎng)絡(luò)分析儀SN-100
一、產(chǎn)品簡介
本產(chǎn)品是一款高性價比的晶振測試系統(tǒng)，采用網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)，實現(xiàn)智能化測量，符合IEC-444標準。測量頻率范圍10KHz-200KHz,1MHz-100MHz，附USB接口進行數(shù)據(jù)通迅。
晶體網(wǎng)絡(luò)分析儀SN-100系列采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實現(xiàn)串聯(lián)諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負載諧振頻率和負載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯(lián)諧振頻率Fr、負載諧振頻率FL（ppm）、串聯(lián)諧振電阻Rr、負載諧振電阻RL、負載電容CL、動態(tài)電容C1、動態(tài)電感L1、品質(zhì)因數(shù)Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數(shù)測量功能，負載電容在1-200P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置，從滿足不同負載電容的晶振測試，智能網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)運算克服了市場上晶振測試設(shè)備使用實體電容法測試精度差，無法測試電參數(shù)的缺點、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。
依據(jù)標準：
SJ/Z 9154.1-87/ IEC 444-1(1989)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù)***部分：用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法》；
SJ/Z 9154.2-87/ IEC 444-2(1980)《用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法測量石英晶體元件參數(shù)第二部分測量石英晶體元件動態(tài)電容的相位偏置法》；
GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數(shù)的測量***1部分：采用自動網(wǎng)絡(luò)分析技術(shù)和誤差校正確定負載諧振頻率和有效負載電容的標準方法》 ；
二、主要技術(shù)指標
1. 中心頻率范圍： 10KHz-200KHz,1MHz-100MHz任意設(shè)定
2. 掃描范圍：±1000ppm（默認±400ppm）
3. 負載電容：1-200P 任意設(shè)定
4. 串聯(lián)諧振頻率Fr測量范圍：±1000ppm（默認±400ppm） 測量精度：±5ppm
5. 串聯(lián)諧振電阻Rr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）
10KHz-200KHz：10K-300K （2±10%*R KΩ）
6. 負載電容CL測量范圍：1-200PF
7. 時基誤差：±1ppm
8. 負載諧振頻率FL測量精度：±2ppm+時基誤差+0.5Pf*頻率牽引力Ts
9. 配件：插件式100歐π網(wǎng)絡(luò)測試座（標配），貼片式100歐π網(wǎng)絡(luò)測試座（選配），插件式表晶測試座（選配），貼片式表晶測試座（選配），2520/3225/5032/7050貼片晶振適配套件（選配），通信軟件。
本產(chǎn)品網(wǎng)址：http://m.s3643.cn/cpshow_224472397/
手機版網(wǎng)址：http://m.vooec.com/product_224472397.html
產(chǎn)品名稱：SN-100晶體網(wǎng)絡(luò)分析儀 |
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