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wat半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試設(shè)備and晶圓片檢測(cè)儀

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發(fā)布時(shí)間: 2024/12/23 16:15:00
wat半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試設(shè)備and晶圓片檢測(cè)儀 詳細(xì)說(shuō)明
  wat半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試設(shè)備and晶圓片檢測(cè)儀優(yōu)勢(shì):

IV、CV一鍵測(cè);一體機(jī),支持遠(yuǎn)程指令控制;支持三同軸接探針臺(tái)

能夠覆蓋從材料、晶圓、器件到模塊的測(cè)試;詳詢18140663476

概述:

SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā)、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測(cè)試系統(tǒng),具有高精度、寬測(cè)量范圍、快速靈活、兼容性強(qiáng)等優(yōu)勢(shì)。產(chǎn)品可以同時(shí)支持DC電流-電壓(I-V)、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測(cè)試,旨在幫助加快前沿材料研究、半導(dǎo)體芯片器件設(shè)計(jì)以及先進(jìn)工藝的開(kāi)發(fā),具有桌越的測(cè)量效率與可靠性。

基于模塊化的體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可以幫助用戶根據(jù)測(cè)試需要,靈活選配測(cè)量單元進(jìn)行升級(jí)。產(chǎn)品支持Z高1200V電壓、100A大電流、1pA小電流分辨率的測(cè)量,同時(shí)檢測(cè)10kHz至1MHz范圍內(nèi)的多頻AC電容測(cè)量。SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀搭載普賽斯自主開(kāi)發(fā)的專用半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試軟件,支持交互式手動(dòng)操作或結(jié)合探針臺(tái)的自動(dòng)操作,能夠從測(cè)量設(shè)置、執(zhí)行、結(jié)果分析到數(shù)據(jù)管理的整個(gè)過(guò)程,實(shí)現(xiàn)高效和可重復(fù)的器件表征;也可與高低溫箱、溫控模塊等搭配使用,滿足高低溫測(cè)試需求。



產(chǎn)品特點(diǎn):


30μV-1200V,1pA-100A寬量程測(cè)試能力;

測(cè)量精度高,全量程下可達(dá)0.03%精度;


內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)器件測(cè)試程序,直接調(diào)用測(cè)試簡(jiǎn)便;


自動(dòng)實(shí)時(shí)參數(shù)提取,數(shù)據(jù)繪圖、分析函數(shù);

在CV和IV測(cè)量之間快速切換而無(wú)需重新布線;

提供靈活的夾具定制方案,兼容性強(qiáng);

免費(fèi)提供上位機(jī)軟件及SCPI指令集;



典型應(yīng)用:

納米、柔性等材料特性分析;


二極管;


MOSFET、BJT、晶體管、IGBT;


第三代半導(dǎo)體材料/器件;


有機(jī)OFET器件;


LED、OLED、光電器件;

半導(dǎo)體電阻式等傳感器;

EEL、VCSEL、PD、APD等激光二極管;

電阻率系數(shù)和霍爾效應(yīng)測(cè)量;

太陽(yáng)能電池;

非易失性存儲(chǔ)設(shè)備;

失效分析;

武漢普賽斯自主研發(fā)的高精度臺(tái)式數(shù)字源表、脈沖式源表、集成插卡式源表、窄脈沖電流源、高精度高壓電源等,田補(bǔ)國(guó)產(chǎn)空白。主要應(yīng)用于半導(dǎo)體器件的測(cè)試工藝,為客戶提供模塊化硬件、高效驅(qū)動(dòng)程序和高效算法軟件組合,幫助用戶構(gòu)建自定義解決方案。為半導(dǎo)體封測(cè)廠家提供相關(guān)測(cè)試儀表、測(cè)試平臺(tái),以及相關(guān)技術(shù)服務(wù),滿足行業(yè)對(duì)測(cè)試效率、測(cè)試精度,以及低成本的挑戰(zhàn)。wat半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試設(shè)備and晶圓片檢測(cè)儀認(rèn)準(zhǔn)普賽斯儀表咨詢,詳詢一八一四零六六三四七六;
本產(chǎn)品網(wǎng)址:http://m.s3643.cn/sjshow_507808974/
手機(jī)版網(wǎng)址:http://m.vooec.com/trade_507808974.html
產(chǎn)品名稱:wat半導(dǎo)體參數(shù)測(cè)試設(shè)備and晶圓片檢測(cè)儀
 
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